本系统适用于各种封装类型的半导体分立器件在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验（HTOL）
产品概述：本系统适用于各种封装类型的半导体分立器件在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验（HTOL）。
引用标准：GJB128、MIL-STD-750...
适用器件：Diode、BJT、Si-MOSFET、SiC-MOSFET、GaN-HEMT、电阻器、整流桥、晶闸管等分立器件
适用行业：军工电子、消费电子、半导体设计、封测企业...
