杭州三海电子科技股份有限公司

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产品中心

掌握产品的核心技术，拥有完全的自主知识产权，坚持硬件物料优选，按照质量管理体系对每一道工序实施严格的工艺管理，不断持续提升产品的技术性能和品质，助力我国军民用装备可靠性水平的提升，助力我国可靠性事业的全面腾飞。

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S-PCTE-1000/3000-36 功率循环测试机

半导体分立器件

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本系统适用于各种封装的半导体分立器件进行功率间歇寿命试验（IOL）、秒级﹙s﹚/分钟级﹙min﹚功率循环试验（Power Cycling）。
IC测试座

老化板/老化插座

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本产品针对IC测试座专业设计，保证探针连接稳定可靠；采用进口探针和防静电工程材料(PEI、PPSToron材料)制作；探针可以更换，维修方便，成本低；最小可以做到测试间距pitch=0.15mm；测试频率最高可达60GHZ。
开模标准HAST-HTOL测试-老化座

老化板/老化插座

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本产品采用开模Socket+探针结构，大大降低设计、加工成本，降低使用费用；测试座带有散热片能有效解决芯片散热问题；交期快，提高使用效率；Housing整体采用开模精度高，测试稳定；适用于自动化测试，便于机械手取放，提高效率。
标准老化座/烧录座

老化板/老化插座

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本产品Socket本体为PEI；Socket 结构采用Open-top/翻盖形式；弹片材料为镀铜；机械测试寿命为1.5-2.5万次；QFN下压测试座机械测试寿命可达10万次；使用温度为-55°C  ~ +175C°C。
电源管理芯片高温老炼检测系统（HTOL-MHz）

微电子器件

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本系统适用于各种封装类型的电源管理芯片在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验（HTOL）
晶体振荡器全动态老炼检测系统（HTOL-MHz）

微电子器件

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本系统适用于各种封装类型的晶体振荡器在高温环境下进行动态老炼筛选试验（HTOL-MHz）
电源模块高温老炼检测系统（HTOL-耗散型）

微电子器件

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本系统适用于各种封装类型的电源模块在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验（HTOL-耗散型）。
电源模块高温老炼检测系统（HTOL-能馈型）

微电子器件

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本系统适用于各种封装类型的电源模块在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验（HTOL-能馈型）。