本产品Socket本体为PEI;Socket 结构采用Open-top/翻盖形式;弹片材料为镀铜;机械测试寿命为1.5-2.5万次;QFN下压测试座机械测试寿命可达10万次;使用温度为-55°C ~ +175C°C。
适用器件:QFN老化座/烧录座、BGA下老化座/烧录座、QFP翻盖老化座/烧录座
适用行业:军工电子、消费电子、半导体设计、封测企业...