产品概述：本系统适用于各种封装的半导体分立器件进行功率间歇寿命试验（IOL）、秒级﹙s﹚/分钟级﹙min﹚功率循环试验（Power Cycling）。

       Product overview：The system is designed for Power intermittent life test (IOL), second level (s)/ minute level (min) Power Cycling test   of various packaged discrete semiconductor devices.

引用标准：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、AEC-Q101、IEC60747、AQG-324...

       Standards referenced：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、AEC-Q101、IEC60747、AQG-324.

适用器件：各种封装类型Diode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMT等功率模块

       Applicable device：VariousPower module with packaging methodlikeDiode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMTetc.

适用行业：军工电子、汽车电子、消费电子、轨道交通、半导体器件设计和封测企业 ...

       Applicable industry：Military electronics、Automotive electronics、Consumer electronics、rail traffic、Semiconductor device design、Closed test enterprise