产品概述：本系统适用于各种封装类型的半导体功率单管和小型模块进行（PCsec & PCmin）间歇寿命试验（IOL）和功率循环试验（Power Cycling）。

引用标准：GJB128、MIL-STD-750、IEC、JEDEC、AEC-Q101、AQG324...

适用器件：Diode、BJT、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMT等单管及小型模块

适用行业：军工电子、汽车电子、车轨交通、风电光伏、消费电子、半导体设计、封测企业...