本系统适用于各种封装类型的大中小规模集成电路在高温环境下进行动态老炼筛选试验（HTOL-MHz）
引用标准：GJB548、GJB597、MIL-STD-883、MIL-M-38510、AEC-Q100、JESD22A-108...
适用器件：数字电路、模拟电路、微处理器、存储器、数模混合集成电路
适用行业：军工电子、汽车电子、车轨交通、消费电子、半导体设计、封测企业...
