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混合集成电路高温动态老炼检测系统（HTOL-MHz）
    发布时间: 2023-04-14 22:50    

本系统适用于各种封装类型的大中小规模混合集成电路在高温环境下进行进行动态老炼筛选试验（HTOL-MHz）

混合集成电路高温动态老炼检测系统（HTOL-MHz）

引用标准：GJB548、GJB597、GJB2438、MIL-STD-883、MIL-M-38510…

适用器件：HIC混合集成电路

适用行业：军工电子、半导体设计、封测企业...