本系统适用于各种封装类型的大中小规模混合集成电路在高低温环境下进行动态老炼筛选试验(H/LTOL-MHz)
引用标准:GJB548、GJB597、GJB2438、MIL-STD-883、MIL-M-38510...
适用器件:HIC混合集成电路
适用行业:军工电子、半导体设计、封测企业...